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  • IC卡(ka)扭(niu)彎(wan)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi) IC卡(ka)扭(niu)矩測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi) IC卡(ka)彎(wan)曲(qu)(qu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi) IC卡(ka)彎(wan)曲(qu)(qu)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)機 IC卡(ka)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)機 IC卡(ka)彎(wan)曲(qu)(qu)性(xing)能測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)機 IC扭(niu)矩測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀(yi)本儀(yi)器(qi)針對性(xing)IC卡(ka)在(zai)國標(biao)16649.1等試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)標(biao)準中的(de)彎(wan)曲(qu)(qu)、扭(niu)矩的(de)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan);外形尺寸:L670 X W380 X H220.

  • IC卡(ka)扭(niu)彎測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀 IC卡(ka)扭(niu)矩測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀 IC卡(ka)彎曲(qu)(qu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀 IC卡(ka)彎曲(qu)(qu)試(shi)(shi)驗(yan)機 IC卡(ka)試(shi)(shi)驗(yan)機 IC卡(ka)彎曲(qu)(qu)性能測(ce)(ce)試(shi)(shi)機 IC扭(niu)矩測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀本儀器針對(dui)性IC卡(ka)在國標16649.1等(deng)試(shi)(shi)驗(yan)標準中的彎曲(qu)(qu)、扭(niu)矩的試(shi)(shi)驗(yan);外形尺(chi)寸(cun):L670 X W380 X H220

  • IC卡(ka)動態(tai)彎(wan)扭試驗機用于檢測磁條卡(ka),IC芯片(pian)卡(ka),集成電路卡(ka),等卡(ka)的(de)彎(wan)曲和扭曲性能測試。

  • 電子標簽(qian)粘(zhan)膠性(xing)拉力測試儀(yi)技術規范根據用戶要求可求取(qu)非金(jin)屬材(cai)料的(de)強(qiang)度(du)(du)、彈性(xing)模量(E)、定(ding)壓(ya)(ya)縮(suo)強(qiang)度(du)(du)、定(ding)荷(he)伸長、屈(qu)服強(qiang)度(du)(du)等(deng)。金(jin)屬材(cai)料的(de)屈(qu)服強(qiang)度(du)(du)、非比例強(qiang)度(du)(du)、總壓(ya)(ya)縮(suo)強(qiang)度(du)(du)、抗(kang)壓(ya)(ya)(拉)強(qiang)度(du)(du)、延伸率(lv)等(deng)。

  • 電子標(biao)簽彎曲(qu)扭(niu)曲(qu)性能綜合測試裝置技(ji)術規范(fan)用(yong)于檢測磁條(tiao)卡(ka),IC芯片卡(ka),集(ji)成電路(lu)卡(ka),等卡(ka)的彎曲(qu)和(he)扭(niu)曲(qu)性能測試。

  • 電(dian)(dian)子標簽扭(niu)曲(qu)測(ce)試儀用(yong)于檢測(ce)磁(ci)條(tiao)卡,IC芯片卡,集成電(dian)(dian)路卡,等卡的彎曲(qu)和扭(niu)曲(qu)性能測(ce)試。

  • 電子標簽彎曲(qu)(qu)測試(shi)儀用(yong)于檢測磁條卡(ka),IC芯片卡(ka),集成電路卡(ka),等卡(ka)的彎曲(qu)(qu)和扭曲(qu)(qu)性能(neng)測試(shi).

  • 上海衡翼(yi)*符合標(biao)準的IC卡(ka)(ka)動(dong)態(tai)彎(wan)扭(niu)(niu)試驗(yan)機供(gong)貨商用于(yu)檢測(ce)磁(ci)條卡(ka)(ka),IC芯片卡(ka)(ka),集(ji)成電路(lu)卡(ka)(ka),等卡(ka)(ka)的彎(wan)曲(qu)和扭(niu)(niu)曲(qu)性能測(ce)試。

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