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  • IC卡(ka)(ka)動(dong)態(tai)(tai)動(dong)態(tai)(tai)雙(shuang)向扭(niu)曲檢(jian)測設(she)備用于檢(jian)測磁條(tiao)卡(ka)(ka),IC芯片(pian)卡(ka)(ka),集成電(dian)路(lu)卡(ka)(ka),等(deng)卡(ka)(ka)的彎(wan)曲和扭(niu)曲性能測試,自主設(she)計*按標(biao)準執行雙(shuang)向扭(niu)轉測試。

  • 識別卡(ka)動(dong)態彎(wan)曲(qu)扭轉(zhuan)循環試驗(yan)機(ji)用于檢測(ce)磁條卡(ka),IC芯片(pian)卡(ka),集成電路(lu)卡(ka),等卡(ka)的(de)彎(wan)曲(qu)和扭曲(qu)性能(neng)測(ce)試。

  • IC卡(ka)動態(tai)彎曲雙向(xiang)扭試(shi)驗機(ji)用于(yu)檢測磁條(tiao)卡(ka),IC芯片卡(ka),集成電路(lu)卡(ka),等(deng)卡(ka)的彎曲和扭曲性(xing)能測試(shi)。

  • 電(dian)(dian)子標簽動態彎扭試(shi)驗機用于檢測磁條卡(ka),IC芯片(pian)卡(ka),集成電(dian)(dian)路(lu)卡(ka),等卡(ka)的彎曲和扭曲性能(neng)測試(shi)。

  • 智(zhi)能卡(ka)(ka)動態彎扭試驗機用于檢測磁條卡(ka)(ka),IC芯(xin)片卡(ka)(ka),集成電(dian)路卡(ka)(ka),等(deng)卡(ka)(ka)的彎曲和扭曲性能測試。

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